美国Quantum Design公司的综合物性测量系统（1.8 - 400 K, 0 - 14 Tesla）

德国MBE Component公司的超高真空分子束外延生长系统

美国Keysight公司的半导体参数分析仪

室温铁磁共振及电输运测量系统

日本HITACHI扫描电子显微镜

德国BrukerX射线衍射仪

美国Agilent气相色谱-质谱联用仪

瑞士METTLER TOLEDO热重-差示扫描量热仪

美国Agilent紫外可见近红外分光光度计

美国Micromeritics全自动比表面和孔径分析仪

美国Agilent光催化-气相色谱仪

美国Agilent荧光光谱仪

美国Micromeritics化学吸附分析仪

瑞士METTLER TOLEDO差示扫描量热仪

美国REMSPEC原位傅里叶变换红外光谱仪